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德國BYK4448 4564多功能三角度光澤儀μ型
簡介：微型三角度光澤儀μ型：光澤和厚度測量集于一身一個好的涂裝是使用盡可能少的涂料來達到客戶要求的質量規格。光澤和厚度是評估涂層質量的重要參數。微型三角度光澤儀μ可在幾秒內在同一個測量點上同時測量這兩個參數，不僅節省時間而且在現場使用也十分理想。
德國BYK4448 4564多功能三角度光澤儀μ型介紹：
微型光澤儀器系列測量儀器是用于測量油漆涂料，塑料，陶瓷和金屬表面的光澤。微型三角度μ附帶測量鐵基（Fe)和非鐵基(NFe)上的油漆涂層厚度。光線以一定的角度直射到樣品的表面，通過光電感應計（反射計）測量反射光。根據被測物體光澤的水平。反射計以不同角度直射光照射到產品表面。儀器裝備20º，60º或85º標準測量角。在微型三角度光澤儀中同時含有這三個角度。本操作手冊中測量角度的選擇功能描述是針對三角度光澤儀的。此外測量的每個光澤數據可以回看，保存，同時可對多達999個數據的測量系列進行統計評估。使用操作按鈕和滾輪對系統進行控制，系統操作由屏幕提示信息（自動診斷和錯誤提示）提供支持。測量儀器符合DIN 67530, ISO 2813, ASTM D 523, JIS Z8741和BS3900 Part D5等標準。
涂料，油漆，塑料以及類似材料光澤度測量：根據以下不同領域的應用使用不同的測量角度：  |
陽極電鍍鋁和其它金屬表面光澤測量：儀器具有更大的測量范圍用于測量非常高光澤的樣品。非金屬材料表面的反射率會隨入射角加大而提高，金屬的反射特性并不于此相似。因為有二次反射，即一部分光被涂層表面反射，另一部分被底部的金屬反射。為了得到這些表面的全部反射特性，建議在他們上面測量全部的角度。除了可以查看以黑色玻璃標準板為參考的（GU 光澤單位），還能以金屬領域內的反射光的數量為參考的 % （反射率）。 |
膜厚測量：
膜厚探頭的功能是根據電磁感應方式（Fe）或電渦流方式（NFe）。因此測量結果在高磁場或電磁波的環境下產生偏差。測量的膜厚受到磁性（Fe）或非磁性（NFe）金屬基材厚度的影響。測量結果還會受到諸如復合物或底材熱處理的影響發生偏差。應此推薦在沒有涂層的產品上進行零點校準后再進行樣品測量。對于粗糙的表面也會影響涂層厚度的測量。為了降低隨機誤差，建議使用多點測量法。如果是在附有非磁性金屬層的磁性基材（例如：鍍鋅鐵板）上測量涂層膜厚，請注意以下幾點：
● 用于NFe設置，基材厚度至少50μm。（例如非磁性涂層）
● 用于Fe設置，非磁性涂層厚度已包含在測量結果中。
- 微型三角度光澤儀μ型：光澤和厚度測量集于一身一個好的涂裝是使用盡可能少的涂料來達到客戶要求的質量規格。光澤和厚度是評估涂層質量的重要參數。微型三角度光澤儀μ可在幾秒內在同一個測量點上同時測量這兩個參數，不僅節省時間而且在現場使用也十分理想。
微型三角度光澤儀μ--光澤和厚度測量集于一身
高效的涂裝工藝是使用盡可能少的涂料來達到客戶要求的質量規格。光澤和厚度是評估涂層質量的重要參數。微型三角度光澤儀 μ 可在幾秒內在同一個測量點上測量這兩個參數，不僅節省時間而且在現場使用也十分理想 - 僅需攜帶一臺儀器。
■ 同時顯示20°, 60°, 85°光澤值 – 用于高、中、低光澤涂料
■ 磁性/非磁性兩用型探頭 – 在鋼或鋁基材上測量涂層厚度
一般性技術指標
操作溫度 ........................: +15C至+40°C (60° F至104°F)
儲存溫度 ........................-10C 至+60°C (-14°F至140°F)
相對濕度 ........................小于85%，不結露
內存 ........................999個含有日期和時間的測量數據，多達50個內存區域。
差值測量 ........................可存50個參考標準
接口 ........................USB
評估軟件........................Easy-link, (隨機配有)
電源. .......................1節堿性電池(AA/LR6)或鎳錳可充電電池
電池 ........................1.5VDC,大.0.1A
可充電電池 ........................1.2VDC,大.0.1A
外接電源 ........................USB, 5VDC,大. 0.1A
尺寸(寬X長X高) ........................48X 155 X 73mm
測量角度........................20° / 60° / 85°
測量區域(mm) ........................10X10/ 9X15/ 5X38
測量范圍........................ 0-2000GU / 0-1000GU/ 0-160GU
色度響應........................ 在CIE-C光源下，CIE光度函數y (2° )
重復性....................... 0.2GU（0-100GU）/0.2%（100-2000GU）/0.1GU（S型0-10GU）
重現性.......................0.5GU（0-100GU）/0.5%（100-2000GU）/0.2GU（S型0-10GU）
膜厚度測量：
基材 .......................Fe: 磁性， 例如；鐵 NFe: 非磁性，例如：鋁
探頭 .......................單點
測量范圍 ....................... 0…500μm (0...20mil)
精度....................... ±（1.5μm+2%*) *測量值
基材小厚度....................... Fe: 0.02mm (8mil) NFe: 0.05mm (2mil)
